<<
>>

1.5. Интерферометры и их использование

Интерферометрами называют приборы, сконструированные для наблюдения интерференции. Оптическая схема интерферометра зависит от того, для чего он предназначен. Мы не будем касаться тех интерферометров, на которых определяют показатели преломления газов.

Рассмотрим лишь ход лучей в интерферометре Майкельсона, разновидности которого используются для определения отклонения размеров выполненной детали от эталона.

Ход лучей в интерферометрах этого типа показан на рис. 1.11. Интерферометр состоит из четырех колен, сходящихся вместе. В конце одного из колен находится источник света И, в двух других — зеркала З1 и З2. Четвертое колено заканчивается окуляром, снабжённым шкалой, на которую проецируется спектр. В центре, где все четыре колена сходятся, находится полупрозрачное зеркало ПЗ. Оно разделяет каждый луч источника света на два когерентных луча, и на рисунке точкой показано место этого деления.

Внимательно приглядевшись, вы заметите, что с момента разделения и до попадания в окуляр первый луч проходит толщину зеркала дважды, а второй луч — ни разу. Поэтому на его пути ставят компенсационную стеклянную пластинку КП, что позволяет при подсчёте оптической разности хода не учитывать ход лучей в стекле полупрозрачного зеркала. Ход луча, идущего к нижнему зеркалу З1, обозначен l1, к правому зеркалу З2 — l2. Отразившись каждый от своего зеркала, лучи встречаются вновь в той точке, где они разделились. Разность их хода

, (1.20)

поскольку каждый луч проходит своё колено дважды. Ясно, что условие наблюдения максимума k–го порядка в определённой точке шкалы может быть найдено по условию (1.12) интерференционных максимумов:

2l1 – 2l2 = ± kl. (1.21)

Изменение одного из расстояний до зеркала даже на четверть длины световой волны приведёт к тому, что разность хода станет кратной не длине волны, а ее половине, условие максимума сменится на условие минимума и в той точке шкалы, где наблюдался максимум k–го порядка, будет минимум.

Нижнее зеркало интерферометра делают подвижным, с выступающим наружу прибора щупом. Под этим щупом на предметном столике помещают сначала эталон, а затем изготовленную деталь. Отличие её размера от размера эталона даже на 0,1l, то есть примерно на 0,05 мкм будет заметно по смещению спектра, наблюдаемого в окуляр.

<< | >>
Источник: Н.М. Соколова, В.И. Биглер. ФИЗИКА. Курс лекций. Часть 3. Челябинск. Издательство ЮурГУ. 2002

Еще по теме 1.5. Интерферометры и их использование:

  1. Методика использования МИКФ
  2. 27. Условия и порядок предоставления жилого помещения в фонде социального использования.
  3. 3.4 Использование ИК метода для выявления структурных дефектов и оптической неоднородности.
  4. Метод формирования тремерной рабочей сцены при использовании нескольких оптико-электронных датчиков
  5. Алгоритм формирования тремерной рабочей сцены при использовании нескольких оптико-электронных датчиков
  6. Глава 2 ОПЫТ РАЗРАБОТКИ И ИСПОЛЬЗОВАНИЯ УЧЕБНЫХ ЗАДАНИЙ, ОРИЕНТИРОВАННЫХ НА ДОСТИЖЕНИЕ ЛИЧНОСТНЫХ РЕЗУЛЬТАТОВ ШКОЛЬНИКОВ В ПРОЦЕССЕ ОБУЧЕНИЯ
  7. ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ
  8. 23. Договор аренды зданий и сооружений
  9. 29. Права и обязанности сторон по договору социального найма жилого помещения.
  10. 36. Расторжение договора социального найма жилого помещения с предоставлением другого благоустроенного жилого помещения.
  11. 28. Юридическая характеристика и элементы договора социального найма жилого помещения.
  12. 37. Расторжение договора найма жилого помещения по Гражданскому кодексу РФ- основания и порядок.
  13. 35. Расторжение договора социального найма жилого помещения без предоставления другого жилого помещения.
  14. Ход и результаты опытно-экспериментальной работы