Связь между дефектами структуры и оптическими неоднородностями в кристаллах.

Анализ известных экспериментальных и теоретических данных позволяет в кратком виде представить взаимосвязь структурных дефектов и OA в монокристаллах следующим образом.

Нульмерные дефекты (вакансии, примесные атомы) приводят к образованию линейных дефектов (дислокаций), с которыми связаны дефекты второго порядка - границы блоков и малоугловые границы.

напряжения [72]:

где σ

механическое напряжение, \ Ь — модуль вектора Бюргерса,

Nd — плотность дислокаций, E - модуль Юнга. Механические напряжения, в свою очередь, могут быть независимо определены методом рентгеновской дифрактометрии по изменениям угловых положений дифракционных

максимумов с помощью формулы

где λ - длина волны излучения, Θ - угол дифракции, т - порядок максимума, Ehki - модуль Юнга в направлении напряжения, d_hkι - межплоскостное

расстояние, соответствующее ненапряжённому кристаллу.

1.2.